EP003-屏蔽罩底下BGA本體破裂案例分析
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這次要跟大家討論一個論壇網友提出來關於「屏蔽罩下BGA本體破裂」的案例。這是一張論壇上苦主貼出來關於「屏蔽罩下BGA本體破裂」的照片,這位苦主強調說,這顆本體破裂的BGA位於屏蔽罩的下方,在生產線做ICT電路組裝板測試的時候,因為出現"短路報錯"不良訊息後送檢,拆開屏蔽罩後發現BGA本體有破裂情形,苦主強調說不良率很低,到目前為止生產了10萬片板子,也只有這1片不良。所以應該就是個單一案例。 《部落格相關文章》 🛠️屏蔽框(Shielding frame)在PCBA的設計與生產注意事項 https://www.researchmfg.com/2010/08/shielding-frame/ 🛠️把ICT(In-Circuit-Test)電路電性測試拿掉真的比較省錢嗎? https://www.researchmfg.com/2015/02/removed-ict/ 🛠️什麼是ICT(In-Circuit Test)與MDA(Manufacturing Defects Analyzer)?有何優缺點? https://www.researchmfg.com/2015/01/ict/ 《在SoundOn贊助工作熊》 https://pay.soundon.fm/podcasts/e570c874-a770-4722-a5d3-30cc37e7f135
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這次要跟大家討論的主題是,有網友在論壇上詢問關於「Cross-out boards」的問題,工作熊這裡先將「Cross-out boards」翻譯為「打叉板」,等說完了網友提問的內容,我們再來解釋,什麼是「Cross-out boards」、打叉板? 《相關YouTube影片》 🛠️片式電容零件頂部偶發焊錫短路問題討論 https://youtu.be/DYAh0BE17yU 🛠️BGA虛焊失效模式可以使用X-ray分析嗎? https://youtu.be/S-Pzfe4-wrY 🛠️屏蔽罩下BGA本體破裂案例分析 https://youtu.be/-2RZtpcHgZ8...
Published 06/03/24
Published 06/03/24
CAF是Conductive Anodic Filamentation的英文縮寫,中文的翻譯為「導電性陽極細絲物」或者稱為「陽極性玻璃纖維絲漏電現象」,是一種導電正離子沿著玻璃纖維紗滲透並與鄰近低電位的線路產生短路的一種PCBA不良現象。不知道大家有沒有感覺?這個CAF的現象聽起來那麼像電子化學遷移(Electrochemical migration, ECM)?沒錯CAF應該可以算是電化學遷移的一種不良現象。如果大家還是無法想像這是什麼樣的不良,我們可以先把它理解為是電路板內層或是綠漆底下微短路的一種現象。 相關部落格文章: 🛠️電路板內層微短路現象(CAF,...
Published 05/20/24